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SB100A/3型四探針導體/半導體電阻率測量儀技術參數(shù)

由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，他們的測量采用四端接線法。為了滿足實際的需要，本儀器采用四探針法原理來實現(xiàn)對不同金屬、半導體、導電高分子材料的電阻及電阻率的測量?？捎糜诟咝Ｎ锢斫逃龑嶒?，對導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻 及電阻率的測試及研究。本產(chǎn)品的電阻測量范圍可達10-5—106Ω。

SB100A/3型四探針導體/半導體電阻率測量儀是由SB118/1型精密電壓電流源以及SB120/2四探針樣品平臺二臺儀器構(gòu)成。

l SB118型精密直流電壓電流源 （詳見該產(chǎn)品使用說明書）

直流電流源

a)  電流輸出范圍：1nA~200mA，輸出電壓不小于5V；

b)  量程：分五檔，20μA、200μA、2mA、20mA、200mA；

c)   電流輸出的基本wu差：0.03%RD±0.02%FS（20±2℃）；其中50~200mA為0.05%RD±0.02%FS。

直流電壓源

a)  電壓輸出范圍：5μV~50V，負載電流不小于10mA（20mV以上）；

b) 量程：分五檔，20mV、200mV、2V、20V、50V，每檔均有粗調(diào)和細調(diào)；

c)  電壓輸出的基本wu差：0.05%RD±0.02%FS（20±2℃）。

數(shù)字電壓表（4?LED）利用電壓源部分“取樣"端可對被測電壓進行測試

a)  測量量程   20mV，200mV，2V，20V，200V

b)  最高分辨力  可達1µV

c) 基本誤差為 0.03%RD±0.02%FS   （20±2oC）

l  SB120/2四探針樣品平臺（詳見該產(chǎn)品使用說明書）

為被測薄膜樣品，利用四探針測量方式測量導體/半導體樣品的電阻和電阻率，提供了方便。

尊敬的客戶：感謝您關注我們的產(chǎn)品，本公司除了有此產(chǎn)品介紹以外，還有10KV高壓絕緣墊,ZGF-2mA/60KV直流高壓發(fā)生器,硅橡膠高壓線,繼電保護試驗裝置，微水測試儀，安全工器具力學性能試驗機，雙鉗相位伏安表，100A回路電阻測試儀等等的介紹，您如果對我們的產(chǎn)品有興趣，咨詢。謝謝?。?/span>